超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000

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更新時間：2024-01-28 23:21:52瀏覽次數(shù)：159次

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  電子顯微鏡 (SEM/TEM/STEM)

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日立高新技術(shù)（上海）國際貿(mào)易有限公司北京分公司

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產(chǎn)品簡介

專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計。

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超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000

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超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000

專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計。

特點(diǎn)

新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計提高了低加速電壓性能。
0.4 nm / 30 kV (SE)
1.2 nm / 1 kV (SE)
0.34 nm / 30 kV (STEM)
用改良的高真空性能和的電子束穩(wěn)定性來實(shí)現(xiàn)高效率截面觀察。
采用全新設(shè)計的Super E x B能量過濾技術(shù)，高效，靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類

聚焦離子束系統(tǒng) (FIB/FIB-SEM)
TEM/SEM樣品前處理裝置

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡

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