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SEM 掃描電子顯微鏡

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更新時間：2023-11-02 20:15:33瀏覽次數(shù)：189次

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產(chǎn)品簡介

SEM 掃描電子顯微鏡

詳細(xì)介紹

用于材料和生命科學(xué)的掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡（SEM）能夠提供高分辨率的表面信息及出色的材料對比度。它們被廣泛運(yùn)用于電鏡科學(xué)及應(yīng)用領(lǐng)域，如納米技術(shù)、材料分析、半導(dǎo)體失效分析、生命科學(xué)和質(zhì)量控制。EVOEVO是一款高分辨掃描電子顯微鏡，它能夠?qū)崿F(xiàn)工作流程的自動化，并提供出色的表面成像能力及環(huán)境掃描技術(shù)。用于材料分析的 EVO用于生命科學(xué)的 EVOEVO 18EVO 18 是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供清晰的成像品質(zhì)。用于材料分析的 EVO 18GeminiSEM輕松成像 - 擁有亞納米級分辨率和高探測效率，即使在可變壓力模式下亦能像在高真空環(huán)境中工作GeminiSEMMERLINMERLIN 是場發(fā)射掃描電子顯微鏡中的產(chǎn)品，具有亞納米級分析能力。MERLIN在單一平臺上將超高分辨率成像和束流結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了超快速納米分析。用于材料分析的 MERLIN用于生命科學(xué)的 MERLINSigma 系列產(chǎn)品結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和高級分析性能，用于顆粒、表面和納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 的4步半自動工作流程節(jié)省了大量的工作時間Sigma 系列產(chǎn)品特殊流程定制工具量身定制的掃描電子顯微鏡能滿足您的各類應(yīng)用需求。例如用于顆粒度分析的 ParticleSCAN用于引擎失效分析的 JetSCANMultiSEM體驗(yàn)的掃描電子顯微鏡 - 擁有 61 條并行電子束。MultiSEM 505

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡顯微鏡

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