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力標(biāo)精密設(shè)備(深圳)有限公司

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晶片芯片測試儀半導(dǎo)體推拉力測試機

參   考   價: 150000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地深圳市

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更新時間:2023-07-20 16:02:32瀏覽次數(shù):331次

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多功能推拉力測試機,可進行微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試、焊球重復(fù)性推力疲勞測試(內(nèi)引線拉力測試、微焊點推力測試、金球推力測試、芯片剪切力測試、SMT焊接元器件推力測試、BGA矩陣整體推力測試)。晶片芯片測試儀半導(dǎo)體推拉力測試機

多功能推拉力測試機,可進行微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試、焊球重復(fù)性推力疲勞測試(內(nèi)引線拉力測試、微焊點推力測試、金球推力測試、芯片剪切力測試、SMT焊接元器件推力測試、BGA矩陣整體推力測試)。設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、LED封裝、智慧卡封裝、通訊電子、汽車電子產(chǎn)業(yè)及各類研究所、大專院校、電子電路失效分析與測試。晶片芯片測試儀半導(dǎo)體推拉力測試機

LB-8600多功能推拉力測試機廣泛用于LED封裝測試,IC半導(dǎo)體封裝測試、TO封裝測試,IGBT功率模塊封裝測試,光電子元器件封裝測試,汽車領(lǐng)域,航天航空領(lǐng)域,產(chǎn)品測試,研究機構(gòu)的測試及各類院校的測試研究等應(yīng)用。晶片芯片測試儀半導(dǎo)體推拉力測試機

設(shè)備功能介紹:

1.設(shè)備整體結(jié)構(gòu)采用五軸定位控制系統(tǒng),X軸和Y軸行程100mm,Z軸行程80mm,結(jié)合人體學(xué)的設(shè)計,保護措施,左右霍爾搖桿控制XYZ平臺的自由移動,讓操作更加簡單、方便并更加人性化。

2.可達200KG的堅固機身設(shè)計,Y軸測試力值100KG,Z軸測試力值20KG

3.智能工位自動更換系統(tǒng),減少手工更換模塊的繁瑣性,同時更好提升了測試的效率及便捷性

4.高精密的動態(tài)傳感結(jié)合的力學(xué)算法,使各傳感器適應(yīng)不同環(huán)境的精密測試并確保測試精度的準(zhǔn)確性

5.LED智能燈光控制系統(tǒng),當(dāng)設(shè)備空閑狀況下,照明燈光自動熄滅,人員操作時,LED照明燈開啟

設(shè)備軟件:

1.中英文軟件界面,三級操作權(quán)限,各級操作權(quán)限可自由設(shè)定力值單位Kg、g、N,可根據(jù)測試需要進行選擇。

2.軟件可實時輸出測試結(jié)果的直方圖、力值曲線,測試數(shù)據(jù)實時保存與導(dǎo)出功能,測試數(shù)據(jù)并可實時連接MES系統(tǒng)軟件可設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)值并直接輸出測試結(jié)果并自動對測試結(jié)果進行判定。

3.SPC數(shù)據(jù)導(dǎo)出自帶當(dāng)前導(dǎo)出數(shù)據(jù)值、最小值、平均值及CPK計算。

傳感器精度:傳感器精度±0.003%;綜合測試精度±0.25%測試傳感器量程自動切換。

測試精度:多點位線性精度校正,并用標(biāo)準(zhǔn)法碼進行重復(fù)性測試,保證傳感器測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

軟件參數(shù)設(shè)置:根據(jù)各級權(quán)限可對合格力值、剪切高度、測試速度等參數(shù)進行調(diào)節(jié)。

測試平臺:真空360度自由旋轉(zhuǎn)測試平臺,適應(yīng)于各種材料測試需求,只需要更換相應(yīng)的治具或壓板,即可輕松實現(xiàn)多種材料的測試需求。

測試參數(shù):

設(shè)備型號:LB-8600

外型尺寸:680*580*710(含左右搖桿)

設(shè)備重量:95KG

電源供應(yīng):110V/220V@4.0A  50/60HZ

壓縮空氣:4.5-6Bar

真空輸出:500mm Hg

控制電腦:聯(lián)想PC

軟件運行:Windows7/Windows10

顯微鏡:標(biāo)配雙目連續(xù)變倍顯微鏡(選配三目顯微鏡)

傳感器更換方式:自動切換

平臺治具:360度旋轉(zhuǎn),平臺可共用各種測試治具

XY軸有效行程:100*100mm

Z軸有效行程:80mm

XY軸分辯率:±1um   Z軸分辯率±1um

傳感器精度:傳感器精度±0.003%;綜合測試精度±0.25%

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