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力標(biāo)精密設(shè)備(深圳)有限公司
  • 半導(dǎo)體推拉力儀LED芯片推力測(cè)試機(jī)

    推拉力測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于濾波片的貼裝、ALMP封裝、芯片鍵合線焊接、內(nèi)引線、IC封裝測(cè)試、0402元件、倒裝LED芯片固晶焊接、智能卡器件封裝研究所材料力學(xué)研究、...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/29 11:21:33 對(duì)比
    LED芯片推力測(cè)試機(jī)半導(dǎo)體推拉力儀元器件焊接推拉力測(cè)試推拉力試驗(yàn)機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀
  • 鍵合拉力測(cè)試儀焊線推力機(jī)

    推拉力測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于濾波片的貼裝、ALMP封裝、芯片鍵合線焊接、內(nèi)引線、IC封裝測(cè)試、0402元件、倒裝LED芯片固晶焊接、智能卡器件封裝研究所材料力學(xué)研究、...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/29 11:21:33 對(duì)比
    焊線拉力測(cè)試機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀芯片封裝測(cè)試設(shè)備微焊點(diǎn)推拉力機(jī)元器件焊接推拉力測(cè)試
  • 焊點(diǎn)剪切力測(cè)試儀半導(dǎo)體推拉力機(jī)

    推拉力測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于濾波片的貼裝、ALMP封裝、芯片鍵合線焊接、內(nèi)引線、IC封裝測(cè)試、0402元件、倒裝LED芯片固晶焊接、智能卡器件封裝研究所材料力學(xué)研究、...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/29 11:21:33 對(duì)比
    半導(dǎo)體推拉力機(jī)焊點(diǎn)剪切力測(cè)試儀元器件焊接推拉力測(cè)試晶片推力機(jī)芯片推力測(cè)試機(jī)
  • 元器件焊接推拉力測(cè)試晶片推力機(jī)

    推拉力測(cè)試機(jī)的原理基于力學(xué)原理,即力與位移之間的關(guān)系。推拉力測(cè)試機(jī)通過施加推力或拉力于測(cè)試樣品,并測(cè)量該力對(duì)樣品造成的位移,從而確定樣品的強(qiáng)度和耐久性。元器件焊...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/15 15:48:16 對(duì)比
    晶片推力機(jī)元器件焊接推拉力測(cè)試芯片封裝測(cè)試設(shè)備金線推力機(jī)推拉力試驗(yàn)機(jī)
  • 鍵合拉力測(cè)試儀半導(dǎo)體推力機(jī)

    元器件推拉力測(cè)試是為了評(píng)估電子元器件連接可靠性和耐久性的測(cè)試方法。它考慮了外部力對(duì)連接件的影響,并遵循相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和要求,以確保元器件在各種應(yīng)力下的穩(wěn)定性和性能。...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/13 16:21:18 對(duì)比
    半導(dǎo)體推力機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀鍵合強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)推拉力測(cè)試儀
  • 芯片封裝測(cè)試設(shè)備多功能推拉力測(cè)試機(jī)

    半導(dǎo)體推力測(cè)試儀是微電子和電子制造領(lǐng)域的重要儀器設(shè)備,它在測(cè)試精度、重復(fù)性、可靠性、操控性和外觀設(shè)計(jì)等方面,均達(dá)到高的水平。主要是用于微電子封裝和PCBA電子組...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/13 16:21:11 對(duì)比
    多功能推拉力測(cè)試機(jī)芯片封裝測(cè)試設(shè)備鍵合強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)金線推拉力測(cè)試機(jī)
  • 元器件焊接推拉力測(cè)試推力試驗(yàn)機(jī)

    半導(dǎo)體推力測(cè)試儀優(yōu)化了測(cè)試模塊,適應(yīng)不同類型測(cè)試環(huán)境的能力,保證了同一測(cè)試模塊在不同主機(jī)上工作地測(cè)試數(shù)據(jù)得可靠性、以及一致性。元器件焊接推拉力測(cè)試推力試驗(yàn)機(jī)

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/13 16:21:11 對(duì)比
    元器件焊接推拉力測(cè)試推拉力試驗(yàn)機(jī)芯片封裝測(cè)試設(shè)備多功能推拉力測(cè)試機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀
  • 鍵合拉力測(cè)試儀芯片推力機(jī)

    元器件推拉力測(cè)試是為了評(píng)估電子元器件連接可靠性和耐久性的測(cè)試方法。它考慮了外部力對(duì)連接件的影響,并遵循相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和要求,以確保元器件在各種應(yīng)力下的穩(wěn)定性和性能。...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/13 16:21:11 對(duì)比
    芯片推力機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀多功能推拉力試驗(yàn)機(jī)國產(chǎn)推拉力測(cè)試儀LED芯片推力測(cè)試機(jī)
  • 芯片推力測(cè)試機(jī)金線推拉力機(jī)

    推拉力測(cè)試機(jī)采用了AUTO-RANGE技術(shù)和VPM垂直定位技術(shù),測(cè)試傳感器采用自動(dòng)量程設(shè)計(jì),分辨率高達(dá)達(dá)0.0001克。芯片推力測(cè)試機(jī)金線推拉力機(jī)

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/13 16:21:11 對(duì)比
    金線推拉力測(cè)試機(jī)芯片推力測(cè)試機(jī)元器件焊接推拉力測(cè)試推拉力試驗(yàn)機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀半導(dǎo)體推力機(jī)
  • 元器件焊接推拉力測(cè)試金線推力機(jī)

    芯片推拉力測(cè)試機(jī)具有測(cè)試動(dòng)作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣的特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、光通訊器材件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測(cè)試、研究所材料力學(xué)研究、材料可...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/13 16:21:11 對(duì)比
    金線推力機(jī)元器件焊接推拉力測(cè)試芯片推力測(cè)試機(jī)金線推拉力機(jī)鍵合拉力測(cè)試儀
  • 芯片封裝測(cè)試設(shè)備金線推拉力測(cè)試機(jī)

    半導(dǎo)體推力測(cè)試儀是一種應(yīng)用于航空、航天等領(lǐng)域的*測(cè)試儀器。它可用于測(cè)試各種推進(jìn)系統(tǒng)在推力、推力變化、推力穩(wěn)定性等方面的表現(xiàn)情況。芯片封裝測(cè)試設(shè)備金線推拉力測(cè)試機(jī)

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/6 17:28:50 對(duì)比
    金線推拉力測(cè)試機(jī)芯片封裝測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝測(cè)試設(shè)備推拉力測(cè)試儀多功能推拉力測(cè)試機(jī)
  • 半導(dǎo)體封裝測(cè)試設(shè)備推拉力測(cè)試儀

    元器件推拉力測(cè)試是為了評(píng)估電子元器件連接可靠性和耐久性的測(cè)試方法。它考慮了外部力對(duì)連接件的影響,并遵循相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和要求,以確保元器件在各種應(yīng)力下的穩(wěn)定性和性能。...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/6 17:28:50 對(duì)比
    推拉力測(cè)試儀半導(dǎo)體封裝測(cè)試設(shè)備芯片封裝測(cè)試設(shè)備金線推拉力測(cè)試機(jī)多功能推拉力測(cè)試機(jī)
  • 鍵合強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)

    推拉力檢測(cè)儀,很多朋友又稱它為多功能剪切力測(cè)試儀,主要是用于光模塊、TO封裝、5G光器件封裝、合金線、粗鋁線鍵合汽車電子、航空航天、微電子封裝和PCBA電子組裝...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/6 17:28:50 對(duì)比
    半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)鍵合強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備推拉力測(cè)試儀金線推拉力測(cè)試機(jī)多功能推拉力測(cè)試機(jī)
  • led推力試驗(yàn)機(jī)金球芯片推拉力儀

    推拉力測(cè)試儀(微焊點(diǎn)強(qiáng)度測(cè)試儀器)多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀,可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用??膳渲脼楹唵魏妇€拉力測(cè)試儀,也可升級(jí)進(jìn)行錫球剪切力、晶粒剪切力、凸塊拉...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/2 9:55:36 對(duì)比
    金球芯片推拉力儀led推力試驗(yàn)機(jī)芯片推力測(cè)試臺(tái)多功能推拉力測(cè)試機(jī)封裝推拉力機(jī)
  • led拉力試驗(yàn)機(jī)半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)

    一臺(tái)高精度的推拉力測(cè)試機(jī),測(cè)試方式有破壞性、非破壞性,適用于 IC封裝、光通訊器件封裝、LED 封裝、CCM 器件封裝、智能卡器件封裝、COB/COG 綁定、S...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/2 9:55:27 對(duì)比
    半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)led拉力試驗(yàn)機(jī)芯片推力測(cè)試臺(tái)多功能推拉力測(cè)試機(jī)多功能剪切力測(cè)試儀
  • 半導(dǎo)體芯片測(cè)試機(jī)金球推拉力測(cè)試儀

    推拉力測(cè)試是一種工程測(cè)試方法,用于評(píng)估材料、構(gòu)件或系統(tǒng)在受到推力或拉力作用下的性能和可靠性。這種測(cè)試廣泛應(yīng)用于許多行業(yè),包括航空航天、汽車、建筑和制造業(yè)等。半導(dǎo)...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/2 9:55:27 對(duì)比
    金球推拉力測(cè)試儀半導(dǎo)體芯片測(cè)試機(jī)焊點(diǎn)拉力試驗(yàn)機(jī)芯片推拉力測(cè)試機(jī)封裝推拉力機(jī)
  • 焊點(diǎn)拉力測(cè)試儀半導(dǎo)體推力機(jī)

    推拉力測(cè)試機(jī)的原理是通過精確測(cè)量施加的力對(duì)樣品造成的位移,并利用力學(xué)原理,如彈性模量和應(yīng)力應(yīng)變關(guān)系,來評(píng)估樣品的強(qiáng)度和耐久性。通過實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),工程師可以了解樣品的...

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    半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)焊點(diǎn)拉力測(cè)試儀led拉力試驗(yàn)機(jī)金球芯片推拉力儀焊點(diǎn)推拉力測(cè)試儀
  • smt推拉力測(cè)試半導(dǎo)體封裝測(cè)試設(shè)備

    一臺(tái)高精度的推拉力測(cè)試機(jī),測(cè)試方式有破壞性、非破壞性,適用于 IC封裝、光通訊器件封裝、LED 封裝、CCM 器件封裝、智能卡器件封裝、COB/COG 綁定、S...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/2 9:55:27 對(duì)比
    半導(dǎo)體封裝測(cè)試設(shè)備smt推拉力測(cè)試半導(dǎo)體芯片測(cè)試機(jī)金球推拉力測(cè)試儀led拉力試驗(yàn)機(jī)
  • LED推拉力測(cè)試半導(dǎo)體推力機(jī)

    推拉力檢測(cè)儀,很多朋友又稱它為多功能剪切力測(cè)試儀,主要是用于光模塊、TO封裝、5G光器件封裝、合金線、粗鋁線鍵合汽車電子、航空航天、微電子封裝和PCBA電子組裝...

    型號(hào): 所在地:深圳市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/11/2 9:55:27 對(duì)比
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    半導(dǎo)體推力測(cè)試儀是一種應(yīng)用于航空、航天等領(lǐng)域的*測(cè)試儀器。它可用于測(cè)試各種推進(jìn)系統(tǒng)在推力、推力變化、推力穩(wěn)定性等方面的表現(xiàn)情況。焊點(diǎn)推力測(cè)試儀精密推拉力機(jī)

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