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CEM3000簡單易操作超高分辨率掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫...

NS系列半導體臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技...

NS系列半導體臺階高度測量儀器電動X/Y平臺（150mm×150mm）搭配8英寸晶圓載物臺，適配半導體晶圓、光伏基板等大尺寸樣品。可精準測量臺階高度（...

VT6000高精度共聚焦顯微鏡基于共聚焦技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描與智能3D建模算法，可實現(xiàn)對納米至微米級表面形貌的高精度測量，覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣...

CEM3000實驗室臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該系列臺式電鏡也...

VT6000多功能共聚焦顯微鏡主要應用于半導體、光學膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領(lǐng)域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測中，其次是對表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測...

SuperViewW白光干涉光學膜厚測量儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

中圖儀器CEM3000系列實驗室桌面型掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該...

CEM3000系列高易用性掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能...

CEM3000系列鎢燈絲掃描電子顯微鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富...

SuperViewW白光干涉三維光學形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀...

CEM3000系列國內(nèi)高分辨力掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。儀器空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下...

VT6000系列白光干涉共聚焦顯微鏡一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。儀器的隔震設計能夠消減底面振動噪聲，儀器在部分...

中圖儀器NS系列膜厚臺階儀線性可變差動電容傳感器（LVDC），具有亞埃級分辨率，13μm量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差，使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百...

中圖儀器SuperViewW桌面式白光干涉光學輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。它...

CEM3000桌面式能譜掃描電子顯微鏡讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶...

CEM3000系列臺式鎢燈絲掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。臺式電鏡緊湊的外型，CEM3000系列臺式掃描電鏡能夠不受場地尺寸制約，真正做到了空間...

NS系列軟膜材料臺階高度儀采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點。它是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，可以測...

中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國產(chǎn)掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自...

CEM3000系列超清掃描顯微鏡在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的...