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VT6000共聚焦三維光學(xué)輪廓顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，具有很強的縱向深度的分辨能力，能夠清晰地展示微小物體的圖像形態(tài)細節(jié)，顯示出精細的細節(jié)圖像。它具有直觀測量...

VT6000材料表征測量高分辨率超景深共聚焦顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，測量與分析同界面操作，無須切換，測量數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，實現(xiàn)了快速批量測量的功能；

SuperViewW1白光干涉技術(shù)3D測量輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光...

SuperViewW白光干涉儀摩擦磨損形貌檢測儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺...

VT6000工業(yè)用激光共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它是基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取...

中圖儀器VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件...

中圖儀器SuperViewW1國產(chǎn)3D白光干涉儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計，可實現(xiàn)高測量精度重復(fù)性和高粗糙度RMS重復(fù)性。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向...

VT6000系列3d形貌測量分析顯微鏡可以對柵線進行快速檢測。此外，太陽能電池制作過程中，制絨作為關(guān)鍵核心工藝，金字塔結(jié)構(gòu)的質(zhì)量影像減反射焰光效果，是光電轉(zhuǎn)換效...

三維白光干涉表面形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，典型結(jié)果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，臺階高度，錐角等...

中圖儀器VT6000系列共聚焦成像激光顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，...

中圖儀器SuperViewW系列3d白光形貌干涉儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納...

中圖儀器SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面...

中圖儀器VT6000系列激光共聚焦光學(xué)顯微鏡可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，...

中圖儀器VT6000高分辨率共聚焦顯微鏡采用自研的電動鼻輪塔臺，并對軟件防撞設(shè)置與硬件傳感器防撞設(shè)置功能進行了優(yōu)化，確保共聚焦顯微鏡在使用高倍物鏡僅不到1mm的...

SuperViewW系列中圖國產(chǎn)白光干涉儀基于白光干涉原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉儀非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)。以...

中圖儀器VT6000共聚焦3D顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。主要采用3D捕獲的成像技術(shù)，它通過數(shù)碼相機針孔的高強度激光來實...

chotest白光干涉三維輪廓儀讓輪廓測量價格更為實惠，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。適用于各種產(chǎn)品、...

VT6000系列共聚焦顯微鏡3D光學(xué)成像系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，保證儀器的高測量精度；在測量漸變較...

VT6000系列激光共聚焦形貌顯微鏡設(shè)備具備粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能；用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量.