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日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修，HAST，它通過模擬產(chǎn)品在長時間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動和電壓等，以測試...

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半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的...

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HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

BiasHAST高加速壓力立式偏壓老化測試系統(tǒng)，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...

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BiasHAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...

BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng)，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品...

半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試PCB老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...

芯片動態(tài)老化測試系統(tǒng)，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對半導(dǎo)體分立器件、光耦、...

芯片 老化測試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶...

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電阻 器件溫度系數(shù)測試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測量系統(tǒng)是依據(jù)測試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測試、保護(hù)評估控制于一體，可按照國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對試驗(yàn)樣...

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