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成都中冷低溫科技有限公司
  • 電子元器件高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)

    電子元器件高低溫在線測(cè)試系統(tǒng),高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/12 13:09:01 對(duì)比
    電子元器件高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 電阻器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    電阻器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng),電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范,集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體,可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣品...

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    冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案電阻器件
  • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)了對(duì)...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 17:16:12 對(duì)比
    冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
  • 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)了對(duì)...

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    冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
  • 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)

    芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng),高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...

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    Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester

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  • Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)

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  • 電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

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  • 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

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    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/10/30 13:45:18 對(duì)比
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