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上海納騰儀器有限公司
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產(chǎn)品型號Vista-SNOM
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廠商性質(zhì)其他
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更新時間：2023-11-02 20:15:51瀏覽次數(shù)：186次
聯(lián)系我時，請告知來自 食品機械設(shè)備網(wǎng)MVI散射式掃描近場光學(xué)顯微鏡
隨著近些年對于納米光子學(xué)、表面等離極化激元、二維材料以及范德華異質(zhì)結(jié)構(gòu)等領(lǐng)域的深入研究，掃描近場光學(xué)顯微鏡 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成為研究這些領(lǐng)域的的表征手段。雖然掃描近場光學(xué)顯微鏡在散射式模式(s-SNOM)下的空間分辨率有了很大的提升，但是在實際使用上仍然得十分繁雜。在這一背景下，美國Molecular Vista應(yīng)運而生，推出了全新一代散射式掃描近場光學(xué)顯微鏡Vista-SNOM！
有別于傳統(tǒng)的掃描近場光學(xué)顯微鏡，Vista-SNOM基于專用的光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，通過檢測探針與樣品之間的偶極交互直接獲得樣品表面的場強分布，無需遠場光學(xué)探測器。這不僅杜絕了遠場信號的干擾，也無需像SNOM那樣配置多個不同波段光學(xué)探測器。光誘導(dǎo)力顯微鏡的檢測端可無縫適應(yīng)紫外～射頻，用戶僅需考慮如何將激發(fā)光激發(fā)至樣品。
Vista-SNOM在光誘導(dǎo)力顯微鏡模式下實測的場強結(jié)果與模擬結(jié)果高度吻合，同時也具備了s-SNOM模式。這使得科研人員可以將PiFM場強結(jié)果與s-SNOM場強結(jié)果進行對比分析。
s-SNOM 散射式掃描近場光學(xué)顯微鏡案例
下圖為金鋁二聚體分別在480nm和633nm不同偏振方向激發(fā)后的場強分布，圖a,b的實測場強與圖c,d的理論模擬是否吻合，金鋁二聚體間隔僅為5nm!
“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018"
上面提到拉曼信號的增強主要源于局域表面等離子體共振(LSPR)的電磁場增強，下圖為基于銀顆粒陣列的表面增強拉曼襯底(SERS)的場強分布，圖f的FWHM結(jié)果顯示光誘導(dǎo)力顯微鏡實現(xiàn)了3.1nm的空間分辨。
Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018"
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