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上海奉實(shí)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
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所 在 地上海市
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GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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GB/T2423.2-2008 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法A:低溫
GB/T2423.2-2008 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法B:高溫
GB/T2324.22-2002 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)溫度變化
GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
安全配置:漏電保護(hù)、短路保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫保護(hù)、相序/缺相保護(hù)等
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