關(guān)鍵詞：薄膜厚度測(cè)量儀,薄膜厚度測(cè)定儀,薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度檢測(cè)儀
　　
Labthink蘭光高精度薄膜厚度測(cè)量儀CHY-C2A采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
　　
高精度薄膜厚度測(cè)量儀CHY-C2A技術(shù)指標(biāo)
負(fù)荷量程：0 ～ 2 mm（常規(guī)） 
0 ～ 6 mm；12 mm （可選） 
分辨率：0.1 μm 
測(cè)量速度：10 次/min （可調(diào)） 
測(cè)量壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張） 
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張） 
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制 
電源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
凈重：32kg 

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： 
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

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