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JVPF 高精密型視頻測量儀

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產品型號JVPF

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更新時間：2024-09-19 07:25:16瀏覽次數(shù)：10次

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東莞市大中儀器有限公司

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產品簡介

高精密花崗巖底座和立柱，保證工作臺運動性能穩(wěn)定；前置Z軸升降調節(jié)和燈光調節(jié)面板，人性化設計，方便操作；采用LED冷光源，底光和表面光手動可調，實現(xiàn)透射和反射照明，亮度高、壽命長、體積?。粶y量精度高達（2+L/200）μm，可滿足對測量精度要求高的零件檢測；采用連續(xù)變倍的物鏡可以快速改變圖像的放大倍率，適用于不同工件的測量；采用進口彩色CCD取像，圖像像質清晰，配用半自動測量軟件，測量方便；可選配5

詳細介紹

產品特點

高精密花崗巖底座和立柱，保證工作臺運動性能穩(wěn)定；
前置Z軸升降調節(jié)和燈光調節(jié)面板，人性化設計，方便操作；
采用LED冷光源，底光和表面光手動可調，實現(xiàn)透射和反射照明，亮度高、壽命長、體積?。?br> 測量精度高達（2+L/200）μm，可滿足對測量精度要求高的零件檢測；
采用連續(xù)變倍的物鏡可以快速改變圖像的放大倍率，適用于不同工件的測量；
采用進口彩色CCD取像，圖像像質清晰，配用半自動測量軟件，測量方便；
可選配5X物鏡，將影像放大至140X-900X，能極大提高Z軸量測精度，可達到0.003mm。

產品用途

能高效地檢測各種形狀復雜工件的輪廓、表面形狀及尺寸、角度和位置，特別是精密零部件的微觀檢測與質量控制。適用于電子、儀器儀表、刀夾具、精密機械零件、精密五金件、電子元器件、塑料與橡膠成品、半導體元器件、沖壓件、接插件、模具、汽車、機械加工、、航天航空、高等院校、科研院所等行業(yè)及各級計量部門或車間檢查站。

技術參數(shù)

軟件功能：
適用于WINDOWS XP操作系統(tǒng)；
提供彩色高品質影像；
可測量點、線、圓、距離、角度，計算真圓度、真直度、同心度等，并能實時產生檢驗報表；
可切換成中文簡體、繁體、英文三種界面；
可根據(jù)實際物體的擺放位置，在原有坐標系與實際位置不符時，可重新建立新坐標系并自動擺正；
圖形及測量值可用WORD、EXCEL、DXF等格式自由輸出；
具有影像尋邊功能，可設定感應靈敏度和定焦精度，能有效避免視覺誤差；
測量畫面可儲存成影像文件（JPG、BMP）或轉至AUTOCAD中進行編輯；
可方便切換測量值的基本單位（mm或inch）；
可將（X、Y）笛卡爾直角坐標系轉換成（r、θ）極坐標系。
軟件功能：
基本幾何測量：測量點、線、圓、圓弧、橢圓等。
自動測量功能：自動尋邊測量、框選測量、篩選毛邊自動尋邊快速測量點、線、圓、弧等。
組合元素測量：對點、線、圓進行組合測量，可計算圓心距、圓切線、兩線中線、中心點、垂直距離、角平分線、兩線交點等。
形位誤差測量：測量計算同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度等形位誤差。
坐標系設定：可對原始坐標進行坐標平移、坐標旋轉，針對物件的位置進行擺正，或是重設新的坐標系。
對比功能：將幾何測量的工件影像圖形以DXF格式輸出，進行實時對比測量，還能分別調出AutoCAD工程圖紙的文檔與影像DXF文檔圖形進行重疊對比測量，從而檢定工件與標準圖紙之間的偏差。
半自動測量高度：對焦指示器可以利用Z軸微步距移動，進行對焦以獲取多個清晰的Z軸斷層圖像，并且可以將它們合成一個清晰完整的圖像組合，系統(tǒng)會根據(jù)圖像組合判定圖像的*好清晰度位置，有效的增強測量的可靠性和重復精度準確性，減小誤差。
尺寸標注功能：可在物體影像測量中，根據(jù)影像圖形進行復合運算測量，而無需點擊功能鍵和命令欄，并可直接對影像視窗中的影像圖形進行長度、角度、坐標、半徑等的標注。
檢測結果的輸出：可輸出至DXF/WORD/EXCEL等進行數(shù)據(jù)處理。
形位公差設定：可將工件中的幾種形位位置公差，以快捷鍵形式標識出來，并可在智能化對話框中進行選擇，操作簡單方便。
直軸光源系統(tǒng)：采用直軸光源系統(tǒng)可高精度的顯示工件輪廓，使工件在利用半自動版影像測量軟件進行測量時，能更準確的獲得測量數(shù)據(jù)。
2D抄數(shù)功能：測量軟件可進行逆向工程中2D/3D抄數(shù)，以便能制作標準的2D工程圖及三維模型，為其它五金塑膠模具等逆向工程開發(fā)提供了極大空間。
測量資料統(tǒng)計（SPC）：操作者可根據(jù)工件測量要求，自行編輯數(shù)據(jù)統(tǒng)計表。如可對*大值、*小值、平均值、偏移量、平均偏移量、標準差、X-R、XM-R管制圖、X-S、Ca、Cp、Cpk等數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計。
半自動學習功能：測量系統(tǒng)有半自動程序編程功能，可儲存/調出使用。進行批量檢測時只需進行一次測量路徑編程后，就可自動抓取測量點，無需再次操作