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升降溫速率可以調(diào)節(jié)試驗箱

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更新時間：2024-11-03 13:45:28瀏覽次數(shù)：102次

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東莞市柳沁檢測儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品特點：升降溫速率可以調(diào)節(jié)試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品，通訊產(chǎn)品，信息電子儀器儀表，工業(yè)材料，零配件，電子產(chǎn)品，各種電子元器件等物品做應(yīng)力篩選試驗。升降溫速率可以調(diào)節(jié)試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB/150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。GJB/150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。GB/T

詳細(xì)介紹

升降溫速率可以調(diào)節(jié)試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品，通訊產(chǎn)品，信息電子儀器儀表，工業(yè)材料，零配件，電子產(chǎn)品，各種電子元器件等物品做應(yīng)力篩選試驗。

升降溫速率可以調(diào)節(jié)試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB/150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則。

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件。

產(chǎn)品&規(guī)范	廠商名稱	高溫	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)	循環(huán)時間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時
NABMAT-9492 美軍制造篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	設(shè)備或系統(tǒng)	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間
筆記本電腦	主板廠商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——