XAD系列熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀,可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析,的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。
性能優(yōu)勢:
1. 微小樣品檢測:最小測量面積0.0085mm2
2. 變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-90mm
3. 核心EFP算法:Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量
4. 的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限
5. 高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積50mm2探測器
6. X射線裝置:微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)對超大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量
8. 大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺210*260mm
應(yīng)用領(lǐng)域:
涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測
涂鍍層分析
行業(yè)應(yīng)用:
巧妙的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):
一六儀器研制的測厚儀的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴(kuò)散度小;與EFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能,實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
核心EFP算法:
專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
RoHS領(lǐng)域
合金、貴金屬、地礦檢測
技術(shù)參數(shù)表