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德國Elektrophysik（EPK）?MiniTest720/730/740測厚儀

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產(chǎn)品型號?MiniTest720/730/740

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更新時間：2024-03-16 17:10:28瀏覽次數(shù)：234次

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產(chǎn)品簡介

德國Elektrophysik（EPK）?MiniTest720/730/740測厚儀

詳細介紹

產(chǎn)品描述

德國Elektrophysik（EPK）MiniTest720/730/740測厚儀-----創(chuàng)新的SIDSP技術(shù)提升了測量的精確性，新的MiniTest720/730/740涂層測厚儀產(chǎn)品線，提高了了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的地位。MINITEST 700按照人體工學設(shè)計，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。

※創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性

※測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

※FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

※SIDSP技術(shù)-新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭

※模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

MiniTest720/730/740系列涂層測厚儀預設(shè)選項節(jié)您的時間和金錢：

所有MINITEST 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準。為節(jié)省您的時間和金錢，儀器預設(shè)了大量校準方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準，零點校準，2點校準和3點校準。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應銷售需要，MINITEST 700滿足各種國際標準：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。

MiniTest720/730/740系列涂層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)點：

※SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確

※可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)

※FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤

※溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤

※生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線

※大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)

※讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出

※超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)

※菜單指引操作，25種語言可選

※帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC

※可下載更新軟件

SIDSP技術(shù)

SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術(shù)使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號處理為數(shù)字形式。

SIDSP工作原理？

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您精確的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術(shù)，同時應用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機網(wǎng)絡）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機分析，等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理的信號質(zhì)量和精確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個新的標準。

為什么選擇SIDSP？

1、SIDSP探頭具有的抗干擾性

2、SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性

3、高精確度的SIDSP探頭特征曲線在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準

4、SIDSP探頭對溫度變化不敏感

5、SIDSP探頭適應性強

6、SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償

技術(shù)參數(shù)
主機型號	MiniTest720	MiniTest730		MiniTest740
探頭類型	內(nèi)置	外置		內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10		100
存儲數(shù)據(jù)量	*多10,000個	*多10,000個		*多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)、小值、大值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設(shè)置/自由配置)
校準程序符合國際標準和規(guī)范	ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
校準模式	出廠設(shè)置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作溫度 /存放溫度	-10℃~60℃/-20℃~70℃
體積	157mm x75.5mmx49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內(nèi)置)/230g(外置)