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電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng) 數(shù)粒儀

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參考價(jià): ￥ 386000

訂貨量: ≥1 臺(tái)

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產(chǎn)品型號(hào)PLD-MPCS2.0

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更新時(shí)間：2023-03-25 09:06:06瀏覽次數(shù)：515次

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西安市碑林區(qū)軍計(jì)測(cè)智控設(shè)備研究部

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商鋪產(chǎn)品：58條

所在地區(qū)：陜西西安市

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產(chǎn)品簡介

是否進(jìn)口	否	輸入信號(hào)電壓	220V
型號(hào)	PLD-MPCS2.0

電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng)是普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場(chǎng)的成熟系統(tǒng)儀器；
觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。

詳細(xì)介紹

電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測(cè)試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺(tái)、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。

電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng) 優(yōu)勢(shì)：

測(cè)試軟件具有審計(jì)追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)量驗(yàn)證、報(bào)告模板、圖像存儲(chǔ)、顆粒追蹤、報(bào)告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù)，自動(dòng)顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級(jí)；

將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

軟件控制分析過程，手動(dòng)對(duì)焦，手動(dòng)光強(qiáng)（顆粒清潔度測(cè)試必須人為干預(yù)進(jìn)行），自動(dòng)掃描，自動(dòng)攝入，自動(dòng)分析；

*數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析；

引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗(yàn)極速無卡頓測(cè)試。

顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；

直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測(cè)范圍；