多點(diǎn)式塵埃粒子測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)、產(chǎn)品介紹：
隨著我國(guó)潔凈室（潔凈系統(tǒng)）的建造技術(shù)的提高，對(duì)潔凈系統(tǒng)的檢測(cè)要求也逐步提高，根據(jù)需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)已成必然趨勢(shì)， CLJ-V多點(diǎn)綜合參數(shù)檢測(cè)系統(tǒng)使用光散射原理，將光學(xué)傳感器（半導(dǎo)體激光）超小型化，采用分散式多點(diǎn)采樣，集中式數(shù)據(jù)處理的監(jiān)測(cè)手段，能夠?qū)崿F(xiàn)128點(diǎn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，變送器通用互換性良好，多點(diǎn)檢測(cè)器和其他傳感器可分離使用，也可集成使用，關(guān)鍵部件使用進(jìn)口部件，將整機(jī)

多點(diǎn)式塵埃粒子測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)

、產(chǎn)品介紹：

隨著我國(guó)潔凈室（潔凈系統(tǒng)）的建造技術(shù)的提高，對(duì)潔凈系統(tǒng)的檢測(cè)要求也逐步提高，根據(jù)需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)已成必然趨勢(shì)， CLJ-V多點(diǎn)綜合參數(shù)檢測(cè)系統(tǒng)使用光散射原理，將光學(xué)傳感器（半導(dǎo)體激光）超小型化，采用分散式多點(diǎn)采樣，集中式數(shù)據(jù)處理的監(jiān)測(cè)手段，能夠?qū)崿F(xiàn)128點(diǎn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，變送器通用互換性良好，多點(diǎn)檢測(cè)器和其他傳感器可分離使用，也可集成使用，關(guān)鍵部件使用進(jìn)口部件，將整機(jī)性能達(dá)到國(guó)外同類產(chǎn)品的水平。檢測(cè)參數(shù)：潔凈度、浮游菌、溫濕度、微壓差、風(fēng)速等，可根據(jù)用戶需要選擇。該產(chǎn)品廣泛適用于制藥、電子、精密儀器、儀表、光學(xué)、化學(xué)實(shí)驗(yàn)等其他領(lǐng)域。

二、技術(shù)參數(shù)：

 

型號(hào)	CLJ-VI		CLJ-VII
外形尺寸	100*120*62（W*D*H，不含接口）
監(jiān)控范圍（μm）	0.3～10		0.3～10
電源	DC6-24V
供電系統(tǒng)	外接DC12V(AC-DC 80V-260V
輸出接口	RS-485自定義協(xié)議輸出接口，大點(diǎn)數(shù)可連接128個(gè)，長(zhǎng)測(cè)量距離1Km
控制接口	帶PLC控制接口，可和生產(chǎn)線上PLC機(jī)聯(lián)動(dòng)：4-20mA接口
采樣量	2.83L/min	28.3L/min
采樣氣泵	采用德國(guó)KNF或英國(guó)CHARLES AUSTEN
同時(shí)監(jiān)控通道數(shù)	標(biāo)準(zhǔn)0.3，0.5 2通道 ,可更改其它粒徑通道
排氣過(guò)濾器	內(nèi)置美國(guó)PALL排氣過(guò)濾器，不污染生產(chǎn)環(huán)境
通訊模式	RS232/485,   4-20Ma,  0-5v	Rs232/485,  4-20Ma,  0-5v

 

                         

 

 

        CLJ-VI手持/多點(diǎn)式塵埃粒子計(jì)數(shù)器1                                      CLJ-VI手持/多點(diǎn)式塵埃粒子計(jì)數(shù)器2

  

  

 

                                                

 

                                     CLJ-V 系列多點(diǎn)式塵埃粒子計(jì)數(shù)器測(cè)試監(jiān)控軟件界面

 

 

 

多點(diǎn)式塵埃粒子測(cè)試監(jiān)控系統(tǒng)