安科瑞 鮑靜君

因為低溫幾乎對所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于低溫會改變其組成材料的物理特性，因此可能會對其工作性能造成暫時損害。

低溫試驗*于用確定元器件、設備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。

方法標準：

●GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫》

●IEC 60068-2-1《Environmental testing-Part2-1:Tests-Test A：Cold》

試驗能力范圍：

溫度范圍: -50℃～+200℃

溫度均勻度: ≤2℃

濕度范圍: 0%～*R.H.

濕度誤差: +2/-3%R.H.

樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

應用領域：

信息技術產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

汽車電子產(chǎn)品.電動玩具產(chǎn)品.