詳細(xì)介紹
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀,采用渦流測(cè)量方法,可無(wú)損地檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù):
幾款leeb200系列涂層測(cè)厚儀的區(qū)別:
leeb210:塑殼,分體,無(wú)接口,F(xiàn)1型探頭。
leeb211:塑殼,分體,無(wú)接口,N1型探頭。
leeb220:塑殼,分體,F(xiàn)1型探頭。
leeb221:塑殼,分體,N1型探頭。
leeb222:塑殼,分體,標(biāo)配兩個(gè)探頭。
leeb230:金屬外殼,分體,F(xiàn)1型探頭。
leeb231:金屬外殼,分體,N1型探頭。
leeb232:金屬外殼,分體,標(biāo)配F1或N1探頭。
leeb25O:塑殼,一體機(jī),F(xiàn)1探頭。
leeb251:塑殼,一體機(jī),N1探頭。
leeb252:塑殼,一體機(jī),雙用探頭。
leeb242:塑殼,分體,帶打印機(jī),標(biāo)配F1或N1探頭。
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀,采用渦流測(cè)量方法,可無(wú)損地檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
里博Leeb211渦流涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | leeb210 | leeb211 | |
測(cè)頭類型 | F1(不可拔插) | N1(不可拔插) | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 0~1250μm | ||
低限分辨率 | 0.1μm | ||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±(3%H+1) | |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1~3%)H+1] | ||
測(cè)試條件 | *小曲率半徑 | 凸1.5mm | |
*小面積直徑 | Φ7mm | ||
基本臨界厚度 | 0.5mm | ||
工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ | |
濕度 | 20~90% | ||
磁場(chǎng) | 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境 | ||
電源 | AAA型堿性電池兩節(jié) | ||
外形尺寸 | 主機(jī)115*70*30mm | ||
重量 | 152g | 195g |
leeb210:塑殼,分體,無(wú)接口,F(xiàn)1型探頭。
leeb211:塑殼,分體,無(wú)接口,N1型探頭。
leeb220:塑殼,分體,F(xiàn)1型探頭。
leeb221:塑殼,分體,N1型探頭。
leeb222:塑殼,分體,標(biāo)配兩個(gè)探頭。
leeb230:金屬外殼,分體,F(xiàn)1型探頭。
leeb231:金屬外殼,分體,N1型探頭。
leeb232:金屬外殼,分體,標(biāo)配F1或N1探頭。
leeb25O:塑殼,一體機(jī),F(xiàn)1探頭。
leeb251:塑殼,一體機(jī),N1探頭。
leeb252:塑殼,一體機(jī),雙用探頭。
leeb242:塑殼,分體,帶打印機(jī),標(biāo)配F1或N1探頭。