普通型硅片檢測(cè)顯微鏡TGB-200詳細(xì)技術(shù)參數(shù)一、儀器用途TGB-200硅片檢測(cè)顯微鏡主要用于太陽(yáng)能電池硅片的觀察.它能生產(chǎn)高清晰的圖像,立體感較強(qiáng)，成像較清晰和寬闊，又具有長(zhǎng)工作距離，并具有較大的視場(chǎng)范圍和相應(yīng)的放大倍數(shù),配有高像素的數(shù)碼攝像頭,可以很清楚地看到硅片的”金字塔”的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析服務(wù).是太陽(yáng)能電池硅片的普遍專用顯微鏡