半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的。