inTEST熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試維修，inTEST-Temptronic高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)試應(yīng)用：閃存(FlashMemory)，是非揮發(fā)性?xún)?nèi)存的一種，不需電力來(lái)維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲(chǔ)存，可分為NORFlash以及NANDFlash兩種等等。