KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對(duì)膜厚的細(xì)微差別進(jìn)行精確評(píng)估的研究。它通過(guò)調(diào)節(jié)制備器上方的兩個(gè)微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即Z終涂層厚度。刮涂時(shí)以每，O微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。