KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行精確評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即Z終涂層厚度。刮涂時以每，O微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。