X-射線鍍層測(cè)厚及金屬分析儀EX-3000
Fischerscop® X-RAY System
×DL® -B及×DLM® -C4是采用技術(shù)標(biāo)
準(zhǔn)ASTM及B568,DIN60987, ISO
3497的×一射線熒光分析法來進(jìn)行測(cè)
量, 不但可以測(cè)量金屬層厚度及金屬之
間的比重, 還可以進(jìn)行金屬物料分析。
Fischerscop® X-RAY Systenl ×DL® 一B及
×DLM@-C4是采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法來進(jìn)行鍍層厚度
的計(jì)算, 在加強(qiáng)的軟件功能之下, 簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù)
雜鍍層的程序, 甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下, 一樣
可以測(cè)量。
它還采用*的焦距距離計(jì)算辦法(DCM), 操作
員現(xiàn)在可以隨時(shí)改變焦距測(cè)量, 對(duì)一些形狀復(fù)雜的工
件尤其方便。
Fischerscop® X-RAY System ×DL® 一B及×DLM® -C4功能包括: 特
大及槽口式的測(cè)量箱、 向下投射式×-射
線, 方便對(duì)位測(cè)量、軟件在視窗98下操
作、 可在同一屏幕清楚顯示測(cè)量讀數(shù)及