測(cè)量:
將探頭置于涂層表面,探頭將發(fā)出的超聲波脈沖穿過(guò)涂層到達(dá)基體,這些超聲波脈沖從各層界面依次反射,又被探頭的超聲傳感器所接受,微處理度和涂層總厚度。一次測(cè)量耗時(shí)少于2秒,數(shù)據(jù)被分組存儲(chǔ),接上MININPRINT打印機(jī),還可以打印輸出所有有序存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
需要特別指出,迄今為止這種新穎的QuintSonic涂層測(cè)厚儀是*一種無(wú)損的、能方便、快捷、測(cè)量非金屬材料上各涂層厚度的儀器。而此前,這類涂層只能有損測(cè)量。