美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計產(chǎn)品簡介美國International Light總代理在哪：
美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長高能量曝光測量
ILT2400輻照計以手持價格提供研究級質(zhì)量，采用可分離探頭設(shè)計，具有8個量級的動態(tài)測量范圍，測量速度可達(dá)100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達(dá)8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向查看讀數(shù)或圖形曲線。XSD340B探頭響應(yīng)波段326-401 nm，校準(zhǔn)于365nm波長，可測量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源輻照強(qiáng)度。ILT測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報告。產(chǎn)品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點(diǎn)儀,熱導(dǎo)氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,ppb微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃?xì)鉄嶂祪x,Kaye溫度驗(yàn)證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點(diǎn)儀,干燥機(jī)露點(diǎn)儀,激光氣體分析儀,便攜式露點(diǎn)儀,便攜式微量氧分析儀，Fei （維修中心，代表處，總代理，分公司，子公司，售后中心，銷售中心，上海辦，辦事處在哪里）
國際光學(xué)International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統(tǒng)用于326-401nm波段紫外線輻照度監(jiān)測，校準(zhǔn)于365nm光阻劑作用光譜，**地知道光致抗蝕劑曝光的程度，可測量高達(dá)30W/cm2 高能量強(qiáng)度，用于PCB印刷電路板光及半導(dǎo)體業(yè)。
美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計探頭參數(shù)：
ILT XSD系列光刻膠輻照度探頭
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準(zhǔn)于405nm波長
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準(zhǔn)于405nm波長
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光譜范圍326-401 nm，中心波長365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高強(qiáng)度，測量光譜326-401 nm，校準(zhǔn)于365nm
美國International Light Photoresist光阻劑曝光輻照度測光表探頭選型
| 輻照計/探頭組合 | 響應(yīng)波長頻譜 | 測量范圍 | 類型及應(yīng)用 |
| ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm2 | 臺式，Photoresist光刻膠/光阻材料， |
| ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，同上 |
| ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻/光阻劑， |
| ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm2 | 臺式，Photoresist光刻/光阻劑，同上 |
| ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻/光阻劑， |
| ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm2 | 同上，大功率高強(qiáng)度輻照探頭 |
| ILT5000, SED033/B/W | 326-401 nm | 3e-10 ~ 0.2 W/cm2 | 臺式，Photoresist光刻/光阻劑， |
| ILT2400, SED033/B/W | 326-401 nm | 2e-8 ~ 0.2 W/cm2 | 手持式，同上 |
| ILT1700, SED033/B/W | 326-401 nm | 5e-9 ~ 0.5 W/cm2 | 臺式，同上 |
| ILT1000/B/W | 326-401 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，同上 |
| ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻/光阻劑， |
| ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，高強(qiáng)度測量 |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm2 | 手持式，超薄傳感器， |
另有UV固化測量系統(tǒng)ILT800傳送帶式紫外線固化設(shè)備曝光量測量，范圍5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校準(zhǔn)于405nm中心波長，可測輻照強(qiáng)度范圍高達(dá)60 W/cm2。ILT紫外**測光系統(tǒng)ILT2400+SED254/QT，手持式，低可見度環(huán)境，高功率紫外線強(qiáng)度應(yīng)用；ILT2400+SED185/NS185校準(zhǔn)于185nm，臭氧/**、光解廢氣、水處理行業(yè)。
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