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HAST測試的失效機理
PCB老化試驗箱半導體芯片BiasHAST測試 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備
其目的是提高環(huán)境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。
HAST測試的失效機理
設備特點
標準設計更安全：內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；
多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩(wěn)定性更高：內置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度。
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數據、曲線導出保存。
HAST測試的失效機理 測試的步驟
1. 確定測試條件：根據IGBT模塊的特性和應用環(huán)境，確定相應的溫度、濕度等測試條件。例如，可能在121℃的高溫環(huán)境中，將相對濕度控制在85%以上。
2. 樣品準備：選取具有代表性的IGBT模塊樣品，確保樣品的質量和可靠性。
3. 安裝與布置：將IGBT模塊樣品安裝在HAST測試設備中，確保設備的穩(wěn)定性和安全性。
4. 施加應力：按照確定的測試條件，對IGBT模塊施加相應的溫度、濕度等應力。
5. 監(jiān)控與記錄：對IGBT模塊在測試過程中的性能表現進行實時監(jiān)控和記錄，包括電氣性能、機械性能等指標。
6. 結果評估：根據測試數據，評估IGBT模塊的可靠性和穩(wěn)定性，確定是否存在潛在問題。
7. 優(yōu)化與改進：根據測試結果，對IGBT模塊的設計和生產進行優(yōu)化和改進，提高產品的可靠性和穩(wěn)定性。
HAST測試的失效機理 產品特點
1.HAST高壓加速老化試驗機采用較新優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細
2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)
3.大容量水箱,試驗時間長,全自動補水，試驗不中斷
4.與試樣數量相吻合的試樣信號施加端了
5.采用觸摸屏，具有USB曲線數據下載功能
6.采用高效真空泵，使箱內達到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)
7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長
8.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。
9.可根據客戶不同需求定制專用HAST試驗設備（如: HAST內箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）
HAST測試的失效機理
滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求
3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。
高壓加速老化試驗箱采用優(yōu)化設計，美觀大方、做工精細，對應 IEC60068-2-66 條件
具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。
