無錫快速溫變老化試驗箱是模擬氣溫變化試驗的設(shè)備,現(xiàn)實環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化,氣溫是午后2時左右,低氣溫是日出前后。年變化,北半球陸地上7月份熱1月冷,海洋上8月份熱2月份冷;南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化,就是因為人為導(dǎo)致一些設(shè)備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化,為了能提前預(yù)知產(chǎn)品的耐變性,所以廣大需求者需要購買快速溫變試驗箱回去做評估或者預(yù)測試驗。
無錫快速溫變老化試驗箱符合標準:
GJB/150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗
GJB/150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分:低溫試驗
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GJB/150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分:濕熱試驗
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件