XDL X-RAY光譜測厚儀,是發(fā)展趨勢承繼其其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列產(chǎn)品,其非毀壞式的測量,尤其合適五金的金屬材料鍍層薄厚,測量迅速、精準(zhǔn)、高質(zhì)量.如一些五金零件、線路板及測量電鍍槽中的金正離子的含量。
菲維爾XDL X-RAY光譜測厚儀,選用了高頻次率的占比信號接收器,能夠在沒有規(guī)范片的狀況下,對金屬材料五金件的鍍層薄厚及電鍍液中的正離子含量作出精準(zhǔn)的測量,此外在WINFTM BASIC 手機(jī)軟件的適用下,可測量多至24原素,它是別的品牌所不可以的。菲維爾XDL X-RAY光譜膜厚儀的長期性可靠性是十分高的,這使儀器設(shè)備降低校準(zhǔn)所必須的時間及頻次,方便管理儀器設(shè)備,并提升 生產(chǎn)率.運(yùn)用范疇普遍,包含了測量很多的電鍍五金件、查驗塑料薄膜層(如:裝飾藝術(shù)鉻的鍍層)、在電子器件及半導(dǎo)體業(yè)中剖析其多功能性的鍍層、可用以線路板測量、電鍍槽中的藥液成分剖析,已變成被廣泛運(yùn)用的全自動測量涂鍍層薄厚的專用儀器。