顆粒碰撞臺用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn),目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種工藝性試驗(yàn)。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
主要技術(shù)參數(shù)
- 頻率范圍(Hz):20~400
- 振動加速度(m/s2):250
- 沖擊加速度(m/s2):15000
- 位移(mm):±3
參考價 | 面議 |
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顆粒碰撞臺用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn),目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種工藝性試驗(yàn)。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
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