布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng),利用SEM的高分辨率,可以直接觀測整個材料動態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化,中間過程無法觀察到,載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋,甚至單從曲線分析會導(dǎo)致錯誤的解釋。
PI 85L安裝于電鏡,可以精確施加載荷,檢測位移,在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測試,可以借助電鏡的高分辨率,觀測并記錄整個材料測試過程,觀測材料在力下發(fā)生的動態(tài)變化,如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。
PI 85L采用Hysitron技術(shù)三板電容傳感器,具備載荷和位移同時監(jiān)測和驅(qū)動的功能。具備業(yè)界的精度,重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn)。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇,如動態(tài)力學(xué)測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學(xué)測試、納米劃痕等功能模塊。