1.儀器特點
1.1輻射防護
1.2多規(guī)格樣品倉
1.3 X-Y可移動樣品平臺
.
1.4 X-Ray探測器
1.5多種規(guī)格測試光斑
1.6小細節(jié)大智慧
X射線探測器
●美國Amptek X-123 Si-PIN:
●Be窗厚度:1mil
●晶體面積:25mm 2
●信號處理系統(tǒng):DP5
●分辨率:145eV
●整體
X射線管
●輸出電壓:0~50kV
●燈絲電流:0~2mA
●功率:50W
● 靶 材:Mo
●Be窗厚度:0.2mm
●使用壽命:2萬小時
高壓電源
● 輸出電壓:0~50kV
● 燈絲電流:0~2mA
●功率:50W
●8小時穩(wěn)定性:0.05%
攝像頭
●微焦距
●免驅(qū)動
●500萬像素高清攝像頭
●高清攝像頭,還具備放大功能,當樣品含有雜質(zhì)或由幾個部分組成時,可以通過CCD管理器精確定位測量位置。通過樣品倉上的透明玻璃門,可以隨時觀察正在測試中的樣品。
光路系統(tǒng)
●多種濾光片、準直器自動切換
●Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可任選4種X射線光斑
●根據(jù)用戶應(yīng)用實際需求配置或定制X射線光斑。
開關(guān)電源
●進口高性能開關(guān)電源
散熱風扇
●進口低噪聲、大風量風扇
● 外形尺寸 :650mm×650mm×970mm
●樣品倉尺寸:650mm×650 mm×630 mm
●儀器凈重:50kg
●供電電源:AC220V/ 50Hz
●功率:330W
● 工作溫度:15-30℃
●相對濕度:≤85%,不結(jié)露