JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型 （3-10μm）I 型 （15-50μm）
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。
JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。
