特點(diǎn):
- 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測(cè)器(SDD),能高精度地測(cè)量.薄的鍍層
- 極耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),能以極出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性用于連續(xù)測(cè)量
- 可編程XY平臺(tái)和Z軸,用于自動(dòng)化連續(xù)測(cè)量
- 擁有實(shí)時(shí)的視頻顯示和輔助激光點(diǎn),使得樣品定位變得快速而簡(jiǎn)便
應(yīng)用:
鍍層厚度測(cè)量
- 測(cè)量極薄鍍層,如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
- 測(cè)量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層
- 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量
材料分析
- 電子、包裝和消費(fèi)品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對(duì)有害物質(zhì)(如重金屬)進(jìn)行鑒別
- 分析黃金和其他貴金屬及其合金
- 測(cè)定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量