絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱
絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱,絕緣電阻劣化(離子遷移)測(cè)試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗(yàn)箱,可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè),快捷評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱
隨著電子設(shè)備在智能化的方向及小型化、輕量化發(fā)展,印制線路板的線路也越來越細(xì),間距越來越小,絕緣層越來越薄,鉆孔尺寸也向更小更密的方向發(fā)展,并且由于信息傳輸速度的提升,使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此,在印制線路板的質(zhì)量與可靠性測(cè)試中,CAF的測(cè)試也就變得越來越重要。
絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng) HAST試驗(yàn)箱
絕緣電阻劣化測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn):
1.高精準(zhǔn)測(cè)量
2.專業(yè)的工程技術(shù)能力支持
3.可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱,HAST箱,PCT等設(shè)備配合測(cè)試。
主要用途
助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料
BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件
有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)
電容、連接器等其他電子元器件及材料
各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估