一臺高精度的推拉力測試機，測試方式有破壞性、非破壞性，適用于 IC封裝、光通訊器件封裝、LED 封裝、CCM 器件封裝、智能卡器件封裝、COB/COG 綁定、SMT元件焊接、材料力學及可靠性研究使用。力標精密推拉力測試機提供各種推力、拉力的測試模組，測試固定治具，以及各種鉤針 Pull)、推刀(Shear)、夾爪(Tweezer)，以符合各種測試需要。大的推力為 200Kg，大的拉力為 20Kg，X/Y 平臺的大移動距離為為 100mm，Z軸的大移動距離為 80mm。半導體芯片封裝設備自動推拉力測試機
推拉力測試機采用了AUTO-RANGE技術和VPM垂直定位技術，測試傳感器采用自動量程設計，分辨率高達達0.0001克。力標推拉力測試機（多功能剪切力測試儀）是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態(tài)測試儀器，是的微電子和電子制造領域的重要儀器設備。該設備測試迅速、準確、適用面廣、測試精度高，適用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、 PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天、等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領域以及各類院校教學和研究。半導體芯片封裝設備自動推拉力測試機
產品特點：
1.采用精密動態(tài)傳感采集技術，確保測試數(shù)據(jù)的精度的真實性。
2.三軸運動平臺，雙搖桿控制機器操作簡單快捷。
3.采用3D立體傳感技術，自動測試功能保證測試精度及數(shù)據(jù)準確性。
4.只需手動更換相對應的測試頭即可實現(xiàn)推力及拉力測試功能。
產品參數(shù)：
設備型號：LB-8000D
測試精度：±0.25%
測試范圍：推力0-5000克（可根據(jù)客戶，配置不同傳感器）
工作方式：推針及拉針180度垂直與測試產品接觸，確保數(shù)據(jù)的準確性
外型尺寸：長：500mm寬：550mm高：440mm
傳感器更換方式：手動
操作系統(tǒng)：控制系統(tǒng)+Windows操作界面
平臺夾具：機臺可共用各種夾具，夾具可360度旋轉
X軸行程：75mm
X軸分辨率：±0.002mm
Y軸行程：75mm
Y軸分辨率：±0.002mm
Z軸行程：75mm
乙軸分辨率：±0.001mm
重量：35kg
功率：300W(MAX)
電源：220V±5%
