● 用途

根據您的要求，可在ANALYSETTE 22 MicroTec plus(它涵蓋了典型的測量任務的較寬測量范圍0.08-2000 微米)，或者ANALYSETTE 22 NanoTec plus（可測量到納米范圍的精密儀器）之間進行選擇。
通過在第三個激光束測量向后散射光，以量測細小顆粒的精度和靈敏度。

● 特性

- 較寬的測量范圍 : 0.01 – 2000 µm
- 適用于通用程序的兩種模式 : MicroTec plus (0.08 – 2000 µm)、NanoTec plus (0.01 –2000 µm)
- 測量時間短 : ANALYSETTE22可以在一分鐘以內完成測量，并可以緊接著準備第二次的測量。
- 測量準度高 : NanoTec plus每次檢測都使用檢測通道進行檢測，這些通道每 41微秒（24 kHz）檢測一次。結合多個測量位置，測量通道多達 110 個。
- 跨時代雙激光技術 : 在緊湊的單元內大大的增加測量精度以及分辨率。
- 便利的模塊設計 : 每個ANALYSETEE22 均由一個緊湊的測量裝置組成，使其可以易于跟干法濕法測量各個分散儀組合。
- 便利的開關系統(tǒng) : 可通過改變包含著顆粒測量單元的卡盤很快地切換。
- 自動測量分析 : 可將結果直接顯示在屏幕上。當然，您也可以將其打印出來或加以儲存