近紅外分光光度分析計 雙單色器的光學(xué)系統(tǒng)，秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。

平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定。

入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計值將與實際測定值不同。

但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器。

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3

采用全新人體工學(xué)設(shè)計。

改進(jìn)樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計。

近紅外分光光度分析計兼容多種U-4100附件。

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

比U-4100型更高的樣品通量。

在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測定，顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。