太陽能硅片厚度測量的設(shè)備，檢測太陽能硅片厚度用什么設(shè)備？檢測太陽能硅片厚度可以用濟南三泉中石實驗儀器有限公司生產(chǎn)的太陽能硅片厚度儀CHY-U來檢測。CHY-U型太陽能硅片厚度儀* GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測試方法》要求，配有自動進樣器，可完成2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測量。在太陽能硅片的生產(chǎn)過程中能夠起到重要作用。
太陽能硅片厚度測量的設(shè)備
為什么檢測太陽能硅片厚度？
在太陽能硅片生產(chǎn)過程中，硅片厚度有一定的偏差范圍，對于180μm厚度的硅片，其偏差范圍為±20μm，超過此范圍則成為不良品--薄厚片，薄厚片的存在會影響產(chǎn)品的合格率，同時會影響電池片的生產(chǎn)工藝。通過對薄厚片的類型及產(chǎn)生原因進行分析，可以更好地減少薄厚片的產(chǎn)生，搭配CHY-U型太陽能硅片厚度儀對硅片厚度進行測量，可提高產(chǎn)品的成品合格率。
太陽能硅片厚度測量的方法：
標準 GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測試方法》中給出了硅片厚度的測量方法，并對檢測儀器的相關(guān)參數(shù)做出了規(guī)定：
1.測厚儀由帶指示儀表的探頭及支持硅片的夾具或平臺組成。
2.測厚儀應(yīng)能使硅片繞平臺中心旋轉(zhuǎn)，并使每次測量定位在規(guī)定位置的2mm范圍內(nèi)。
3.儀表zui小指示量值不大于1μm。
4.測量時探頭與硅片接觸面積不應(yīng)超過2mm²。
太陽能硅片厚度測量可以用三泉中石的太陽能硅片厚度儀，通過對太陽能硅片厚度的測量，查找出導致厚度不均勻的原因，減少薄片的產(chǎn)生，提高高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。尋找厚度儀、太陽能硅片厚度儀、厚度測試儀請致電三泉中石銷售部。
