?薄膜厚度檢測(cè)儀CHY-5專業(yè)用于測(cè)量12.7㎜以下的各類型塑料薄膜、箔片、紙張、紙板等薄片片材的厚度。該儀器滿足ISO 4593, ISO 534, ISO 3034, ASTM D374, ASTM D1777, TAPPI T411, JIS K6250, JIS K6783, JIS Z1702等多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是薄膜及紙張生產(chǎn)廠家或質(zhì)檢機(jī)構(gòu)*的物性指標(biāo)檢測(cè)儀器。
薄膜厚度檢測(cè)儀 三泉中石品牌
對(duì)于塑料薄膜來(lái)講，厚度是影響力學(xué)性能、阻隔性的因素之一，需要在質(zhì)量和成本上找到*化的指標(biāo)。塑料薄膜的厚度是指一定條件下測(cè)得的試樣的界面距離。鑒定標(biāo)準(zhǔn)只適用于光面、未經(jīng)壓花的薄膜。厚度測(cè)定的目的是為了弄清薄膜厚度的差異，同時(shí)，也是進(jìn)行其它測(cè)試時(shí)所必需的數(shù)據(jù)之一。測(cè)定時(shí)所施加壓力的大小具有重要意義，薄膜越軟則影響越大，軟質(zhì)薄膜的測(cè)定壓力應(yīng)為0.25公斤/厘米2，硬質(zhì)薄膜為3公斤/厘米2。大于上述測(cè)定壓力，薄膜會(huì)受壓縮，另一方面，也應(yīng)防止將測(cè)定器過(guò)快觸及被測(cè)薄膜，否則，使軟質(zhì)薄膜變形。上述情況均會(huì)影響測(cè)定結(jié)果。測(cè)試時(shí)必須將薄膜平整地放在測(cè)定儀的測(cè)定位置上，必須定期復(fù)核厚度測(cè)定器的準(zhǔn)確度。
對(duì)于紙和紙板來(lái)講，厚度指標(biāo)是zui基本的檢測(cè)項(xiàng)目。因紙和紙板具有彈性，其厚度的測(cè)量受到壓強(qiáng)（即測(cè)量頭面積、壓力）和測(cè)試時(shí)間的影響，具體影響如下：① 由于紙是柔性體且微觀上并不均勻，其厚度隨著測(cè)量頭面積的增大而變大；②印紙具有可壓縮性，其厚度隨著壓力的增大而變小，并趨于一定值；③ 測(cè)試時(shí)間越長(zhǎng)，厚度越小。影響紙和紙板厚度測(cè)量結(jié)果的三大影響因素為：1、接觸壓力；2、接觸面積；3、測(cè)量頭下降速度。在測(cè)量厚度時(shí)國(guó)標(biāo)及ISO標(biāo)準(zhǔn)中均規(guī)定了這三個(gè)參數(shù)。
綜上所述，使用薄膜厚度檢測(cè)儀CHY-5對(duì)紙張、紙板或薄膜厚度進(jìn)行測(cè)量時(shí)，為取得更精準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果，應(yīng)盡量控制好測(cè)量頭的下降速度。該儀器部分技術(shù)參數(shù)如下：
測(cè)量范圍 0-12.7 ㎜
分度值 0.001 ㎜
測(cè)量頭直徑 10mm(可選圓頭測(cè)量頭)
測(cè)量面間平行度 ＜0.035 ㎜
測(cè)試臺(tái)面 雙零級(jí)大理石臺(tái)面
外型尺寸 210mm×160mm×260mm（長(zhǎng)寬高）
重 量 6kg
薄膜厚度檢測(cè)儀CHY-5的生產(chǎn)廠家濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司是國(guó)內(nèi)度的包裝檢測(cè)儀器供應(yīng)商，可為包材生產(chǎn)廠家提供專業(yè)的包材物性指標(biāo)檢測(cè)方案，更多行業(yè)資訊請(qǐng)搜索濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司或掃描文章底部二維碼關(guān)注三泉中石公眾號(hào)獲取。
