單通道全自動固相萃取儀TH-GX/2000
-——樣品前處理專家


固相萃取方法是 重要的樣品前處理方法之一，目前通常使用的是負(fù)壓固相萃取法，存在速度慢、回收率低、處理大體積樣品困難的缺點(diǎn)，很難實(shí)現(xiàn)自動化。TH-GX/2000型單通道全自動固相萃取儀使用正壓泵、高速萃取柱、自動餾分收集器，將固相萃取過程進(jìn)行了自動化，尤其適合大體積樣品的固相萃取。

單通道全自動固相萃取儀TH-GX/2000

TH-GX/2000主要特點(diǎn)：
1、 正壓無閥泵供液，洗脫速度可精密調(diào)節(jié)；
2、 可以進(jìn)行大體積進(jìn)樣，環(huán)境樣品萃?。?br />3、 帶有全自動餾分收集器，收集方式靈活；
4、 帶有自動切換閥，可自由更換沖洗液體；
5、 高度智能化，高度節(jié)省人力；
6、 體積緊湊，占地面積小；
7、 結(jié)實(shí)耐用，維護(hù)簡單；
8、 便于操作，學(xué)習(xí)迅速；
9、 使用效能不低于進(jìn)口產(chǎn)品，成本低于進(jìn)口；


TH-GX/2000型單通道全自動固相萃取儀 型號：TH-GX/2000
TH-GX/2000主要組成：
1、 正壓無閥泵；
2、 高速萃取柱；
3、 FCS-300型全自動餾分收集器；
4、 TH-GX/2000固相萃取工作站；


TH-GX/2000主要指標(biāo)：
1、 萃取柱體積：0~70ml;
2、 流速范圍:0~125ml/min;
3、 收集樣品個數(shù)： 多168個；
4、 上樣體積：0~5000 ml

TH-GX/2000型單通道全自動固相萃取儀 型號：TH-GX/2000

選配附件
1、氮?dú)獯蹈蓛x
2、自動進(jìn)樣器
3、多路切換閥

產(chǎn)品名稱：紫外分光光度計 分光光度計 產(chǎn)品型號：UV755B

紫外分光光度計  分光光度計 型號：UV755B  
該產(chǎn)品是微機(jī)控制的紫外可見近紅外光譜范圍的新一代普及型儀器?？蓾M足于科研、制藥、生化、環(huán)保、食品、化工及冶金等系統(tǒng)對各種物質(zhì)進(jìn)行定量分析，具有很高的性能價格比，是你理想的選擇 
紫外分光光度計產(chǎn)品優(yōu)勢： 
. 采用51微機(jī)系統(tǒng)，可存儲標(biāo)準(zhǔn)曲線和測試數(shù)據(jù)。 
. 儀器具有智能故障診斷功能，提供斷電保護(hù)。 
. 儀器內(nèi)置定量分析軟件，方便用戶操作使用。 （軟件選配）
. 提gongRS232接口，可連接計算機(jī)或者直接連接打印機(jī)。 
紫外分光光度計技術(shù)參數(shù)： 
 波長驅(qū)動:自動 
 波長范圍:190-1100nm  
 波長準(zhǔn)確度:±1nm 
 波長重復(fù)性:0.2nm 
 光譜帶寬:2nm 
 透色比準(zhǔn)確度:±0.5%T 
 透色比重復(fù)性:0.2%T 
 透色比范圍:0.0-200%T 
 吸光度范圍:-0.30-3.0A 
 濃度顯示范圍:0-1999 
 雜散光:0.2%T@220nm、360nm 
 穩(wěn)定性:±0.002A/小時 @500nm 
 Rs232通訊:有 
 打印機(jī):選配 
 分析軟件:支持

產(chǎn)品名稱：輕便型看譜鏡 產(chǎn)品型號：WKX-11

輕便型看譜鏡型號：WKX-11

本輕便式看譜鏡是專為現(xiàn)場材料分析而設(shè)計的，與其它型號的看譜鏡相比，更具有體積小、重量輕、操作簡單、移動攜帶方便的特點(diǎn)，特別方便于高空作業(yè)、鍋爐安裝及管道內(nèi)壁等窄小部位的分析，應(yīng)用更加廣泛 
主要技術(shù)參數(shù) 
1、光譜范圍：390-700nm 
2、目視分辨本領(lǐng)：0.05-0.11nm 
      目視能分辨下列線對： 
      Fe；613.66nm和613.77nm 
      Fe；487.13nm和487.21nm 
      Mn：476.59nm和476.64nm 
3、色散元件：ZF3棱鏡二塊 
4、準(zhǔn)直物鏡焦距：f=260mm 
5、外形尺寸：410×90×75mm 
6、重量：1.5kg

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 晶體少子壽命測試儀 產(chǎn)品型號：LT-200

數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 晶體少子壽命測試儀型號：LT-200

LT-200數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀簡介 
1. 儀器應(yīng)用范圍及說明 
本設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗(yàn)，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒的少子體壽命測量；也可對硅片進(jìn)行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，因此制樣特別簡便。 
昆德公司數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點(diǎn)： 
可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面進(jìn)行測量，儀器可按需方提供的有標(biāo)稱值的校準(zhǔn)樣品調(diào)試壽命值。 
1.1 可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。 
1.2 液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時在線顯示光電導(dǎo)衰退波形。 
1.3 配置的紅外光源：0.904～0.905μm波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強(qiáng)較強(qiáng)，有利于測量低阻太陽能級硅晶體少數(shù)載流子體壽命，脈沖功率30W。 
1.4 專門為消除陷進(jìn)效應(yīng)增加了紅外低光照。 
1.5 測量范圍寬廣 
測試儀可直接測量： 
a、研磨或切割面：電阻率≥0.5Ω•cm的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。 
b、拋光面：電阻率在0.5～0.01Ω•cm范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶厚度小于1mm的拋光片。 
2. 設(shè)備技術(shù)要求及性能指標(biāo) 
2.1 少子壽命測試范圍：0.5μs~6000μs              
2.2 樣品的電阻率范圍：ρ﹥0.1Ω·cm（非回爐料）               
2.3 測試速度：1分鐘/片                       
2.4 紅外光源波長： 0.904～0.905μm                    
2.5 高頻振蕩源：用石英諧振器，振蕩頻率：30MHZ 
2.6 前置放大器，放大倍數(shù)約25，頻寬2HZ-2MHZ 
2.7 可測單晶尺寸：斷面豎測： 
直徑25mm-150mm；厚度2mm-500mm 
縱向臥測：直徑5mm-20mm；長度50mm-200mm 
2.8 測量方式：采用數(shù)字示波器直接讀數(shù)方式 
2.9 測試分辨率：數(shù)字存儲示波器小分辨率0.01μs  
2.10 設(shè)備重量：20 Kg  
2.11 儀器電源：電源電壓類型：單相210～230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩(wěn)壓，不能與未做保護(hù)措施的大功率、高頻設(shè)備共用電源。