對(duì)于因分辨率不足即使X射線強(qiáng)度足夠也難以進(jìn)行的電子部件、電路板以及食品中的異物等微小局部的測(cè)定,
本裝置可進(jìn)行高靈敏度、高分辨率、分析直徑zui小至50mm的分析。
●測(cè)定原理 x射線熒光分析法
●測(cè)定方法 能量散射型
●測(cè)定對(duì)象 固體、液體、粉體
●測(cè)定范圍 13AI ~ 92U(mEDX-1200) 11Na ~ 92U(mEDX-1300) 13AI ~ 92U(mEDX-1400)
●x射線管 Rh靶
●檢測(cè)器 Si(Li)半導(dǎo)體檢測(cè)器 (mEDX-1200,1300),Si漂移半導(dǎo)體 檢測(cè)器(mEDX-1400)
●樣品型狀 zui大150mm×150mm×40mmH