世界上用戶zui多的高分辨掃描探針顯微鏡 不斷突破，追求*的創(chuàng)新之路 MultiMode8系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅(jiān)固的機(jī)械設(shè)計(jì)與*的低噪音SPM控制電路。SPM系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之間的機(jī)械路徑長(zhǎng)度，路徑越短受聲學(xué)和振動(dòng)噪音的影響越小，同時(shí)受到熱漂移的影響也越小。另外SPM各功能部件組裝穩(wěn)定性也會(huì)影響儀器性能。對(duì)儀器細(xì)節(jié)的考量和技術(shù)的不斷革新，提升了 Multimode系列儀器性能。SPM控制器是保證系統(tǒng)高性能的另一個(gè)關(guān)鍵因素，第五代NanoScope V控制器具有*的數(shù)字架構(gòu)：高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和的數(shù)據(jù)處理能力，布魯克采用技術(shù)， ScanAsyst模式 & PeakForce QNM模式，幫助研究者在各研究領(lǐng)域取得更多研究成果。ScanAsyst自動(dòng)成像軟件，適用于大氣和溶液各種掃描條件. ScanAsyst采用智能計(jì)算方法，連續(xù)監(jiān)控圖像質(zhì)量，根據(jù)反饋?zhàn)龀鲞m當(dāng)?shù)膮?shù)調(diào)整，系統(tǒng)自動(dòng)化而完成這一系列工作，為用戶提供更快捷優(yōu)異的測(cè)量結(jié)果，也大大降低了對(duì)操作者的技術(shù)要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。PeakForceQNM, Bruker*的納米尺度機(jī)械性能的定量測(cè)量，提供更加準(zhǔn)確的材料彈性模量和粘附性的測(cè)量結(jié)果，同時(shí)也有利于保持樣品和針尖的完整性。AFM性能的*詮釋MultiMode®是世界上的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認(rèn)可，迄今為止數(shù)以萬(wàn)計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。其世界的超高分辨率，完備的儀器性能，以及得到充分驗(yàn)證的數(shù)據(jù)可靠性，奠定了其在AFM領(lǐng)域的。 簡(jiǎn)便易行，輕松獲得專業(yè)結(jié)果·使用的自動(dòng)掃描成像模式ScanAsyst™，研究人員不必再去繁瑣地調(diào)整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數(shù)，不論是在大氣下還是在溶液中，都可以輕松獲得高質(zhì)量圖像。·在溶液環(huán)境下掃描更簡(jiǎn)便易行，它無(wú)需進(jìn)行尋找探針的共振頻率，ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力，這樣可以消除Setpoint。 功能強(qiáng)大的定量成像模式·Bruker的新型成像模式PeakForce™ QNM™，可以對(duì)材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測(cè)，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是，使用Peakforce™ QNM™模式可獲得精確、定量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。·PeakForce TUNA™模塊，能夠定量測(cè)量樣品的導(dǎo)電特性，這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的。·全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。zui快掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM提高20倍。具有zui高的分辨率和測(cè)試性能·迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學(xué)家們解決了·諸多重大前沿科研問(wèn)題。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計(jì)，即使樣品的測(cè)試難度大，測(cè)試條件極為苛刻，也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得超高分辨率的圖像。·NanoScope®V控制器提供業(yè)界zui低的系統(tǒng)噪音和*的超高帶寬，大大提高了數(shù)據(jù)分析能力，適用于更多的研究領(lǐng)域。·Bruker*的Peak Force Tapping® 技術(shù)，精確控制針尖與樣品的作用力，可遠(yuǎn)低于TappingMode™所需要的力。 功能完備，適用于各研究領(lǐng)域·大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測(cè)，以其超高分辨率和完備的功能，被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。·在MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測(cè)和成像。·MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時(shí)，獲得樣品的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo)
世界上用戶zui多的高分辨掃描探針顯微鏡
不斷突破，追求*的創(chuàng)新之路
MultiMode8系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅(jiān)固的機(jī)械設(shè)計(jì)與*的低噪音SPM控制電路。SPM系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之間的機(jī)械路徑長(zhǎng)度，路徑越短受聲學(xué)和振動(dòng)噪音的影響越小，同時(shí)受到熱漂移的影響也越小。另外SPM各功能部件組裝穩(wěn)定性也會(huì)影響儀器性能。對(duì)儀器細(xì)節(jié)的考量和技術(shù)的不斷革新，提升了 Multimode系列儀器性能。SPM控制器是保證系統(tǒng)高性能的另一個(gè)關(guān)鍵因素，第五代NanoScope V控制器具有*的數(shù)字架構(gòu)：高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和的數(shù)據(jù)處理能力，布魯克采用技術(shù)， ScanAsyst模式 & PeakForce QNM模式，幫助研究者在各研究領(lǐng)域取得更多研究成果。
ScanAsyst自動(dòng)成像軟件，適用于大氣和溶液各種掃描條件. ScanAsyst采用智能計(jì)算方法，連續(xù)監(jiān)控圖像質(zhì)量，根據(jù)反饋?zhàn)龀鲞m當(dāng)?shù)膮?shù)調(diào)整，系統(tǒng)自動(dòng)化而完成這一系列工作，為用戶提供更快捷優(yōu)異的測(cè)量結(jié)果，也大大降低了對(duì)操作者的技術(shù)要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。PeakForceQNM, Bruker*的納米尺度機(jī)械性能的定量測(cè)量，提供更加準(zhǔn)確的材料彈性模量和粘附性的測(cè)量結(jié)果，同時(shí)也有利于保持樣品和針尖的完整性。
AFM性能的*詮釋
MultiMode®是世界上的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認(rèn)可，迄今為止數(shù)以萬(wàn)計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。其世界的超高分辨率，完備的儀器性能，以及得到充分驗(yàn)證的數(shù)據(jù)可靠性，奠定了其在AFM領(lǐng)域的。
簡(jiǎn)便易行，輕松獲得專業(yè)結(jié)果
·使用的自動(dòng)掃描成像模式ScanAsyst™，研究人員不必再去繁瑣地調(diào)整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數(shù)，不論是在大氣下還是在溶液中，都可以輕松獲得高質(zhì)量圖像。
·在溶液環(huán)境下掃描更簡(jiǎn)便易行，它無(wú)需進(jìn)行尋找探針的共振頻率，ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力，這樣可以消除Setpoint。
功能強(qiáng)大的定量成像模式
·Bruker的新型成像模式PeakForce™ QNM™，可以對(duì)材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測(cè)，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是，使用Peakforce™ QNM™模式可獲得精確、定量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
·PeakForce TUNA™模塊，能夠定量測(cè)量樣品的導(dǎo)電特性，這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的。
·全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。zui快掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM提高20倍。
具有zui高的分辨率和測(cè)試性能
·迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學(xué)家們解決了
·諸多重大前沿科研問(wèn)題。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計(jì)，即使樣品的測(cè)試難度大，測(cè)試條件極為苛刻，也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得超高分辨率的圖像。
·NanoScope®V控制器提供業(yè)界zui低的系統(tǒng)噪音和*的超高帶寬，大大提高了數(shù)據(jù)分析能力，適用于更多的研究領(lǐng)域。
·Bruker*的Peak Force Tapping® 技術(shù)，精確控制針尖與樣品的作用力，可遠(yuǎn)低于TappingMode™所需要的力。
功能完備，適用于各研究領(lǐng)域
·大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測(cè)，以其超高分辨率和完備的功能，被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。
·在MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測(cè)和成像。
·MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時(shí)，獲得樣品的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo)
